Koen Vervloesem
7 February 2008

Advantest lanceert een compacte testoplossing voor het testen van systeemchips in digitale consumentenproducten en automotive-elektronica. Het mainframetestsysteem T2000 GS werkt in combinatie met de digitale 250MDMA-testmodule die parallel testen van systeemchips toelaat. De 250MDMA heeft 128 kanalen per module en testsnelheden van 250 Mbit/s. In de T2000 GS kan het systeem 32 apparaten parallel testen. De 250MDMA heeft een ’histogram engine‘ die ADC-dataopsomming en precisieanalyse uitvoert. De module heeft ook een hoogspanningsuitvoerdriver voor ingebouwd flashgeheugen en Scan- en ALPG-patroongenerators.