Zwitserse onderzoekers hebben de componenten en bedrading van een 22-nanometer-Intel-processor in kaart gebracht zonder de chip open te maken of te vernielen. Zij gebruikten daarvoor röntgenptychografie, een techniek waarbij het sample onder verschillende hoeken wordt bestraald. Uit de verschillende interferentiepatronen wordt vervolgens de interne structuur gereconstrueerd. De Zwitsers haalden een resolutie van 14,6 nanometer, wat net genoeg is om een enigszins wazig beeld van de 22-nanometerchip te verkrijgen. Oudere technologie kan in groot detail worden vastgelegd.
Ingenieurs willen om uiteenlopende redenen in chips kijken: tijdens de ontwikkelfase om het productieproces te monitoren, daarna voor kwaliteits- of authenticiteitscontrole. Of natuurlijk om te kijken hoe de concurrent de zaken aanpakt. Typisch moet de chip daarvoor worden opengemaakt. De methodes daarvoor – behandeling met sterk zuur of plasma – zijn dikwijls destructief. De röntgentechniek belooft daarom het leven van reverse-engineers en testers makkelijker te maken.