Paul van Gerven
10 juli

De halfgeleiderindustrie bedient zich van gestandaardiseerde en geautomatiseerde testprocedures om de kwaliteit van ic’s te garanderen. Voor fotonische chips zijn die er nog niet, maar wil deze opkomende technologie slagen moeten die wel worden ontwikkeld. Dzmitry Pustakhod zette daartoe belangrijke stappen tijdens zijn promotieonderzoek aan de TU Eindhoven. Hij ontwikkelde hoogkwalitatieve testmethodes met een hoge doorvoer, werk waarop hij 4 juli jongstleden promoveerde.

De ontwikkelde golflengtemeter, gemaakt door het Amerikaanse bedrijf Oclaro, heeft een resolutie van 0,32 picometer binnen een bereik van 10 nanometer.

‘Voordat mijn project aanving, waren de beschikbare testmethodes handmatig, bewerkelijk en gericht op specifieke fouten in bijvoorbeeld het materiaal of de geometrie. Wij wilden op verschillende niveaus testen, zowel op component- als circuitniveau’, legt Pustakhod uit. En dat is gelukt: op componentniveau ontwikkelde hij methodes om versterking en absorptie te meten, voor metingen op circuitniveau kwam hij op de proppen met een ongekend nauwkeurige golflengtemeter.

Beide methodes van Pustakhod zijn inmiddels onderdeel van de dagelijkse praktijk in het Photonics Integration-lab waar hij werkte. ‘We kunnen met mijn methodes productieprocessen of individuele wafers snel en betrouwbaar met elkaar vergelijken. Met deze informatie kunnen we onze designmodellen verfijnen en productietechnologie optimaliseren’, aldus Pustakhod. Voor een volledig geautomatiseerde testinfrastructuur zoals in de halfgeleiderindustrie is echter nog meer werk nodig.